LTE测试卡生产商

   LTE 4G测试空白卡支持4G网络标准的USIM卡，可用于核心网基站测试，统称为4G核心网基站**测试卡|4G测试白卡，为4G主要的综合测试仪器使用的测试卡，它为4G网络提供了一个优良的测试环境。LTE测试白卡不仅从性能和使用寿命上做了很大的改进，还添加了多功能网络的测试，满足了一卡多机的测试，减少了频繁换卡的烦恼，从而提高了生产效率。



 测试白卡，根据不同的网络制式分为:GSM测试卡、CDMA测试卡、EVDO测试卡、WCDMA测试卡、TD-SCDMA测试卡、4G-LTE测试卡、SWP-NFC测试卡等，主要提供语音、数据等基本业务，手机功能性测试，例如：误码率等，利用测试仪器（安捷伦8960、CMU200、CMD55、安立8820、CMW500、星河亮点8010等）连接手机进行测试
参数说明：

出厂标准卡尺寸规格：85.5*54*0.80 MM

铣槽尺寸：        Mini-SIM（2FF）：25mm×15mm×0.8mm；

Micro-SIM（3FF）：12x15mm×0.8mm；

Nano-SIM (4FF):12.3mm×8.8mm×0.7mm。

数据传输速率:>100Mbps

加密算法：可根据客户要求处理

工作温度：-20-60℃

产品包装：中性

擦写寿命：10万次

产品材质：PVC

产品芯片:CPU卡
产品适用的测试仪器的品牌：

适用安捷伦、安立、罗德、施瓦茨、AGILENT8960、ROHDE & SCHWARZ、SUNLIGHT、CMU200、CMD55、E5515C、E8285A、MT8820A、NOISEKEN、FLUKE、TEKTRONIC、ADVANTES等国外、国内的各种测试仪器以及自建的网络等。

我司生产的LTE测试白卡包含2G/3G/4G的所有制式，采用国际半导体厂商生产的**芯片，3V/5V兼容5-6触点兼容设计，适合一切手机 配以**COS系统，遵从3GPP各项规范特殊的半导体硅衬，保证卡片可以承受10牛顿／每平方米的压力。（GSM标准为4牛顿／每平方米）适合工业化生产线使用，采用****命，保证读写次数在10万次以上。（3G标准只要求3万次，按一般生产线测量要求，每部手机的读写次数为10次，可测一万部手机。），芯片保护层，保证卡片安全，防电子攻击。耐压6.5V以上特殊卡片涂层，抗静电（ESD），防水（48小时浸泡试验）特殊卡体材料（ABS混合高温PVC），耐高温，45度可正常工作4小时以上。75度温度冲击试验.